- 产品描述
- 技术指标
- 应用案例
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产品型号:
Wafer Mapper-M
产品简介:
利用微悬臂探针结构对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征,可实现晶圆级大样品进行测试。电动样品定位台与光学图像相结合,可在300X300 mm区域实现1 µm的定位精度,探针逼近和扫描参数调整完全自动化操作,成像分辨率可达20皮米。
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1.高级功能:杨氏模量、粘附力、磁畴、表面电势、功函数等物理量测试
2.适配环境:兼容培养皿、加热台等配件,支持液下、高温等环境测量
3.智能化进针:搭配压电扫描管可实现智能化一键进针
4.适配尺寸:12英寸晶圆并向下兼容各种晶圆尺寸
● XY方向噪声水平:0.2 nm闭环,0.02 nm开环
● Z方向噪声水平:0.06 nm闭环,0.03 nm开环
● 非线性度:XY方向0.15%,Z方向1%
● 扫描方式:XYZ全探针扫描方式,扫描过程中样品保持静止
● 扫描范围:90 μm×90 μm×9 μm
● 扫描速率:0.1 Hz~30 Hz
● 图像采样点:32×32~4000×4000
● 样品尺寸:12英寸晶圆向下兼容8、6、4英寸及碎片样品
● 工作模式:接触、轻敲、非接触
● 适配环境:空气、液相
● 多功能测量:静电力显微镜(EFM)、扫描开尔文显微镜(KPFM)、压电力显微镜(PFM)、导电原子力显微镜(C-AFM)、扫描电容力显微镜(SCFM)、磁力显微镜(MFM)、横向力显微镜(LFM)、纳米刻蚀/加工、单点力谱曲线、力调制模式
● 选配:全自动上下料
● 全自动探针逼近系统:行程35 mm,步进精度50 nm
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轻敲模式
球蛋白样品形貌图像
实际案例:
Au-Ti条带状电极片电势
扫描模式:KPFM(抬起模式)
扫描范围:18μm×18μm
Au-Ti条带状电极片静电力
扫描模式:EFM(抬起模式)
扫描范围:18μm×18μm
Fe-Ni薄膜磁畴
扫描模式:MFM(抬起模式)
扫描范围:14μm×14μm
PbTiO3-压电相应垂直幅度图
扫描模式:PFM(接触模式)
扫描范围:20μm×20μm
聚苯乙烯球体形貌
扫描模式:轻敲模式
扫描范围:10μm×10μm
SiC晶须形貌图
晶圆级原子力显微镜
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